今天小編給大家講講濱松平板探測器的校準方法：

  以非晶硅平板探測器為例，探討平板探測器的校準，平板探測器校準由關(guān)鍵操作員執行，關(guān)鍵操作員一般是指醫學(xué)工程部門(mén)的工程師或受到相關(guān)培訓的設備操作員，在執行平板探測器校準之前，要求DR設備連續開(kāi)機(平板探測器工作)4H以上，平板探測器校準包括偏置刷新、暗度校準和X線(xiàn)校準。

  方法一：偏置刷新

  偏置刷新校準每天進(jìn)行1次，大約需要5min，偏置刷新校準用一系列Offsetimage,(偏置圖像，探測器未曝光時(shí)的本底圖像)來(lái)清除由于環(huán)境變化或高劑量曝光后圖像殘留造成的偽影。偏置刷新校準也更新壞點(diǎn)圖。

  方法二：暗度校準

  暗度校準每月進(jìn)行1次，大約需要25min，在這個(gè)過(guò)程中沒(méi)有X線(xiàn)產(chǎn)生，暗度校準是通過(guò)校準獲取一系列Offsetimage,把這些圖像平均后計算得到一個(gè)參考圖像。暗度校準主要作用是執行平板探測器本底校準，保證了探測器的均一性，如果平均探測器一次被安裝并且沒(méi)有被校準，一定要在X線(xiàn)校準之間進(jìn)行暗度校準。

  方法三：X線(xiàn)校準

  X線(xiàn)校準每月進(jìn)行1次，大約需要30min，在這個(gè)過(guò)程中要進(jìn)行15次X線(xiàn)曝光，X線(xiàn)校準包括增益校準、壞點(diǎn)圖更新。增益校準是在特定劑量下交替獲得偏置和X線(xiàn)圖像，在這個(gè)過(guò)程中實(shí)現對探測器非晶電路增益校準。壞點(diǎn)圖就是在維修模式下，探測器板空曝圖像，這種圖要比正常的DICOM圖要豐富，包括一些肉眼看不到的壞點(diǎn)。壞點(diǎn)圖更新是一個(gè)獲取偏置和X線(xiàn)圖像計算壞點(diǎn)圖過(guò)程。

  在X線(xiàn)校準結束時(shí)，程序自動(dòng)計算測器在壞點(diǎn)的評價(jià)值(ECV)。ECV的值一般在27000左右，越低越好。當ECV的值<240000，探測器校準通過(guò);當ECV的值>240000，探測器校準失敗。若多次校準都失敗，這說(shuō)明探測器壞點(diǎn)太多，需要換新的探測器，同時(shí)對檢測出的壞點(diǎn)通過(guò)算法補償，使之不會(huì )對影像造成影響。從上可知X線(xiàn)校準主要作用是保證平板探測器所得影像的分辨率、空間分辨率、對比度。

  濱松平板探測器校準中的注意事項：

  有時(shí)因為室內溫度波動(dòng)超過(guò)5℃，設備會(huì )要求立即執行平板探測器校準，所以保證盡量室內溫度的恒定，在X線(xiàn)核準過(guò)程中，要保證在準直器和探測器宰沒(méi)有遮擋的物體，同時(shí)保證準直器視野已經(jīng)開(kāi)到較大(1075px*1075px)，如果沒(méi)有達到上述要求將會(huì )導致校準失敗，這時(shí)有劑量太低的提示信息，需按要求重新進(jìn)行X線(xiàn)核準。